Universitas Nicolai Copernici - Toruń


Strona główna

O Wydziale

Jednostki

Badania naukowe

Studia

Aktualności

Badania usługowe

Linki



 Strona UMK    English version    Odwiedź Toruń    Uniwersytet A-Z   


Wydział Chemii


Pracownia Analiz Instrumentalnych
Mikroskop Sił Atomowych
ul. Gagarina 7, 87-100 Toruń
tel.: +48 (56) 611-48-32
e-mail: afm@chem.umk.pl



Prezentacja AFM/STM PowerPoint (6.8 MB)


Tryby obrazowania

Przedstawiono wyniki obrazowania powierzchni pokrytej mieszną warstwą srebra i miedzi.
Pomiary wykonano techniką kontaktową (ang. contact mode) i opukiwania (ang. Tapping mode) zestawem NanoScope MultiMode SPM System.



Foto. 1 i 2. Tryb obrazowania Contact, wykres Height.



Foto. 3. Tryb obrazowania Contact, wykres Deflection.



Foto. 4. Tryb obrazowania Tapping, wykres Phase.



Obróbka zdjęć AFM

W AFM wynikiem obrazowania nie jest zapisane w formie graficznej zdjęcie, lecz zbiór danych, z którego po odpowiedniej obróbce uzyskuje się zdjęcia.
Poniżej przedstawiono kolejne etapy tworzenia zdjęć powierzchni błony polimerowej.





Foto.5. Wykres topograficzny Height, skala 1000nm.
Obraz na podstawie danych pierwotnych





Foto. 6 i 7. Efekt zmiany skali na 300 nm (lewe) i użycia flatter (prawe). Widok 2D.




Foto. 8. Zmiana widoku na 3D, wykres Height.





Foto. 9. Efekt zmiany wykresu na Mixed.





Foto. 10. Zdjęcie w innej palecie barw. Prezentacja równoległa.





Foto. 11. Zmiana sposobu prezentacji na perspektywiczną.





Foto. 12. Efekt zmian kontrastu i offsetu w palecie barw.



Pomiary i obróbkę zdjęć wykonał Grzegorz Trykowski programem NanoScope v6.13.





Ostatniej modyfikacji dokonał: Mariusz Pawlak, dnia 04.12.2008.